J-ZDM Dik Metalurjik Mikroskop

Ürün detayları

UIS Yüksek Çözünürlüklü, Uzun çalışma mesafesi ve sonsuz ışık yolu düzeltme sistemi objektif görüntüleme teknolojisini benimseyin Objektif, uyumlu sonsuzluk objektifinin çoğullama teknolojisini tüm gözlem yöntemleriyle genişletir. parlak karanlık alan gözlemi, polarizasyon dahil olmak üzere her gözlem yönteminde yüksek net ve keskin görüntü sağlar. Asferik yüzey Kohler aydınlatması, görüntüleme parlaklığını artırır. Burun parçası çıkarılabilir DIC diferansiyel girişim cihazı ile donatılabilir.

Tedarikçi hakkında

Chongqing MIC Technology Co.,Ltd Head Quarter 11 toplam ürünler Tedarikçi sayfasını ziyaret edin